三通道無(wú)線(xiàn)紫外輻照計 型號：DP-XM10
 
DP-XM10型無(wú)線(xiàn)紫外輻照計采用SMT貼片技術(shù)，選用數字芯片，儀器外殼為流線(xiàn)型設計，探測器經(jīng)過(guò)光譜及角度特性校正，性能穩定，該儀器適用于殺菌、水處理、育種、光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及集成電路、光刻等的紫外輻照度測量工作。

 三通道無(wú)線(xiàn)紫外輻照計 型號：DP-XM10

DP-XM10型無(wú)線(xiàn)紫外輻照計采用SMT貼片技術(shù)，選用數字芯片，儀器外殼為流線(xiàn)型設計，探測器經(jīng)過(guò)光譜及角度特性校正，性能穩定，該儀器適用于殺菌、水處理、育種、光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及集成電路、光刻等的紫外輻照度測量工作。

DP-XM10 型無(wú)線(xiàn)紫外輻照計計量性能符合《JJG879-2015 紫外輻射照度計計量檢定規程》標準。

三通道無(wú)線(xiàn)紫外輻照計特 點(diǎn)

* 光譜及角度特性經(jīng)嚴格校正

* 主機IPS液晶顯示

* 無(wú)線(xiàn)探測器，遠距離無(wú)暴露測量

* 自動(dòng)量程

* 鋰電池

* 電量實(shí)時(shí)顯示

主要技術(shù)指標

* 探頭型號、波長(cháng)范圍及峰值波長(cháng)如下：

（1）WUV254 探頭：λ：(230～275)nm；λP＝254nm

（2）WUV297 探頭：λ：(275～330)nm；λP＝297nm

（3）WUV313 探頭：λ：(290～340)nm；λP＝313nm

（4）WUV340 探頭：λ：(315～370)nm；λP＝340nm

（5）WUV365 探頭：λ：(320～400)nm；λP＝365nm

（6）WUV420 探頭：λ：(375～475)nm；λP＝420nm

根據需要測量的波長(cháng)范圍選擇 3 個(gè)探頭

* 輻照度測量范圍：

(0.1～200000) mW/cm2 * 相對示值誤差：±8%

* 余弦特性(方向性響應)誤差：10%

* 線(xiàn)性誤差：±1.5%

* 換檔誤差：±1%

* 短期不穩定性：±1%（開(kāi)機 30min 后）

* 疲勞誤差：3%

* 零值誤差（滿(mǎn)量程 FS）：±1%

* 響應時(shí)間：1 秒

* 使用環(huán)境： 溫度(0～40)℃，濕度＜85%RH

* 尺寸和重量：

主 機：103mm×76mm×43mm；0.15kg

單個(gè)探頭：f62mm×52mm；0.23kg

* 電源：內置可充電鋰電池，配備充電器